01.03.2016

EMV-Mess- und Prüftechnik für die Kfz-Entwicklung

17. bis 18. Oktober 2016 in Zwickau

Die Komplexität und die Variantenvielfalt der Elektroniksysteme im Kraftfahrzeug nehmen rasant zu. Die elektromagnetische Verträglichkeit (EMV) des Gesamtsystems kann daher nur sichergestellt werden, wenn die Emissions- und Immunitätseigenschaften gezielt vom integrierten Schaltkreis über die Einzelelektroniksysteme bis in das Fahrzeug, in dem diese Systeme über Bussysteme vernetzt sind, entwickelt werden. Um die Einhaltung der Anforderungen der Kraftfahrzeughersteller sicherzustellen und die gesetzlichen Richtlinien einzuhalten, müssen diese EMV-Entwicklungsarbeiten wie Filterung, Überspannungsschutz, Schirmung und Massung schrittweise durch Mess- und Prüfverfahren auf Schaltkreis-, Elektronik- und Fahrzeugebene nachgewiesen werden. Die Freigabe der Elektroniksysteme für den Serieneinsatz basiert im Entwicklungsprozess auf den Mess- und Prüfverfahren, die nach ISO, IEC und CISPR genormt sind. 

Hierbei sind Kenntnisse zu den Einflüssen auf die Reproduzierbarkeit der Ergebnisse und die Messgenauigkeit von entscheidender Bedeutung. Die Interpretation der Ergebnisse der einzelnen Verfahren in den verschiedenen Integrationsstufen gelingt nur mit entsprechender Erfahrung. 

In Zusammenarbeit mit Herrn Professor Matthias Richter von der Westsächsischen Hochschule Zwickau  hat der Bereich Technik daher das Seminar zum Thema „EMV-Mess- und Prüftechnik für die Kfz-Entwicklung“ ins Leben gerufen. Die Veranstaltung am 17. und 18. Oktober 2016 in Zwickau bietet Ihnen einen detaillierten, praxisorientierten Einblick in die Prüf- und Messverfahren der Störfestigkeit und Störaussendung auf Schaltkreisebene, Komponentenebene und Fahrzeugebene. Die Besichtigung und die Durchführung einzelner Mess- und Prüfverfahren im EMV-Zentrum der Westsächsischen Hochschule Zwickau untermauert diese Informationen und zeigt Anwendungen für die Praxis.

  

Nächster Termin: 17. bis 18. Oktober 2016 in Zwickau

Dateien:
EMV_Mess_und_Prüftechnik_KFZ_emm5038.pdf376 K

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